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                    薄膜測厚儀的性能簡介

                    更新時間:2012-08-02瀏覽:2341次

                     薄膜測厚儀的性能簡介 

                    非接觸式測厚儀的測量原理:使用兩個激光傳感器安裝在被測物(紙張)上下方,將傳感器固定在穩定的支架上,確保兩個傳感器的激光能對在同一點上。隨著被測物的移動傳感器就開始對其表面進行采樣,分別測量出目標上下表面分別與上下成對的激光位移傳感器距離,測量值通過串口傳輸到計算機,再通過我們在計算機上的測厚軟件進行處理,得到目標的厚度值。   
                      ZTMS08非接觸式薄膜測厚儀的出現,大大提高了紙張等片材厚度測量的精度,尤其是在自動化生產線上,得到廣泛應用。
                    zui近英國真尚有公司研發出了新的非接觸式測量方法ZTMS08測厚儀,可以實現對薄膜的非接觸式測量,避免對紙張造成形變引起誤差。 
                    技術指標:
                         1.測量范圍:(0-25)mm   2.分辨率:0.001mm   3.電源:氧化銀電池SR44   4.工作溫度:0℃~+40℃   5.儲運溫度:-20~+70℃   6.相對濕度:≤80%
                    符合標準:
                      QB/T 1053-98,QB/T 451.3-98
                     
                     

                     

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